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主營產品： 光學設備、電子計測儀器、科學儀器、機械加工設備、環(huán)境試驗設備、PC周邊用品、作業(yè)工具用品、物流保管用品、化學用品、FA自動化
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產品資料

日本AEMIC愛米克電容檢測計AE-3245A
產品型號：AE-3245A 5分類數字C-tanδ測量儀
簡介：

適合檢查鋁質電解電容質、老化工程

日本AEMIC愛米克電容檢測計AE-3245A  的詳細介紹

日本AEMIC愛米克電容檢測計AE-3245A 

日本AEMIC愛米克電容檢測計AE-3245A 


  • 檢測功能標準配備
  • 測量頻率：120Hz[正弦波]
  • 測量時間：約105msec.[包含接觸＆殘留電壓檢測時間]
  • 測量范圍：C[0～39.99mF]/tanδ[0～199.9%]
  • 內置比較器功能5分類判定顯示及輸出
  • Centronics輸出標準配備
測量范圍及基本精度　適用于C:200(digit)～3999(digit)/tanδ＜99.9%（環(huán)境溫度23℃±5℃）
量程 400nF 4μF 40μF 400μF 4mF 40mF
C**度 ±0.5%±2(digit) ±2%±2(digit) ±2%±5(digit)
tanδ**度
測量模式 串聯(lián)等效電路
※tanδ為100.0%～199.9%的情況下，C以及tanδ的精度則為上述的2倍。
測量模式 串聯(lián)等效電路
測量訊號等級 約400mV (r.m.s.)以下
測量方式 由電壓、電流、防護端子所構成的5端子
測量頻率 120Hz±0.1%、正弦波
測定端子 前面板部：接線柱 5端子
后面板部：8P圓形金屬電路連接器
接觸檢測 輸入端子的1端子以上接觸電阻約為200Ω以上時，為檢測錯誤
殘留電壓檢測 用4端子連接，檢測樣品的未放電電壓約為2.2V以上時，保護檢測電路（輸入保護）
測量時間 【HOLD模式測量時間】約105msec.
【接觸檢測＆殘余電壓檢測】約27msec.
【測量穩(wěn)定時間】約45msc.
【到測量端子開放為止】約96msec.
【空轉模式測量時間】約3次/秒
判定結果顯示 容量[C]：CLO、CLG、CGO、CHG、CHI
tanδ：DGO、DNG
判定結果外部輸出 GO1、GO2、CNG、DNG
控制訊號 輸入：START、HOLD、RESET、CINH、SHIFT、NINH、GINH
輸出：GO1、GO2、CNG、DNG、CER、COV、DER、DOV、CEND、MEND、BUSY、SLCT、CCE、VCE、各種切換判定
數據接口 Centronics 輸出
周圍使用環(huán)境 溫度：0℃～+40℃、　濕度：80%以下（不結霜情況下）
所需電源 AC85V～265V、50～60Hz、約45VA
外形尺寸 432(W)×149(H)×450(D)mm（不含底部橡膠等突起部分突起部分。）
重量 約10kg